La question est quel test faire pour savoir ?
Là ce n'est pas un test. Je le ferai sur un minéral ou cela demande moins d'image en faisant des piles pour chaque de 10. Donc un stach de 30 par exemple ou de 300... On verra bientôt.
Fred :
A voir... Mais si on prend 10 photos identiques ne va-t-on pas éliminer une partie de la diffraction en amplifiant ? Comme un réseau en optique par exemple.... Une addition d'un même phénomène peut amener un autre phénomène.... ?
Fred a écrit:Lorsqu'on descend dans le petit la résolution diminue. Ne serait-il pas possible de contrer ceci par un empilement statistique. C'est à dire que souvent on met un pas pour qu'il ait une superposition partielle des photos.
Ne serait-il pas possible dans le petit pour contrer la diminution de la résolution de faire des empilements pour qu'il y ait une selection de l'information. Ainsi on pourrait recréer une ouverture numérique virtuelle superieure ?
Je fais un premier essai avec mon x20 APO sur un sujet de 0.6 mm que j'ai fait de manière plus standard au x10. Résultat bientôt.
Le problème de cette méthode est qu'il ne faut pas qu'il y ait une erreur qui vienne aussi s'empiler pour s'amplifier...
Vous me direz qu'il faut un pas très petit mais dans mon montage je l'ai.... sans problème. je vais donc faire pour le moment un empilement semi-statistique. Puis me concentrer sur un détail et faire avec un pas de l'ordre de 0.1 µm.Le problème est complexe car le logiciel de stacking va avoir son mot à dire aussi... Comment va-t-il sélectionner.... Peut-on gagner quelques chose ????
Fred :
Le logiciel de stacking sélectionne aussi les points donc il a une influence et peut donc sélectionner ? Ainsi dix images ne donnent pas forcément la même image avec la même diffraction. Le logiciel ne va-t-il pas privilégier les pics des taches d'Airy pour les amplifier ?
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